FEI Hélios 600i FIB-SEM avec logiciel Auto Slice/View et Amira (version 6.2)

 

PRINCIPE GENERAL

La microscopie électronique FIB-SEM (pour Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscopy) est un microscope à balayage générant deux faisceaux ; un faisceau ionique permettant l’ablation de l’échantillon et un faisceau d’électron permettant la prise d’image. La succession des deux étapes « coupe-image » conduit à l’obtention d’une pile d’images utilisée pour la reconstruction en 3D à l’échelle ultrastructurale de cellules entières.